XRF自动化系统
自动化化学前处理
全自动火试金
离子迁移测试应用
半导体测试应用
-
SPECTROCUBE 偏振能量色散X荧光分析仪 ED-XRF
全新的SPECTROCUBE型ED-XRF分析仪为各种应用提供简单、可靠、准确、高通量的分析，在贵金属分析、燃料和润滑油、RoHS合规检测及各种筛分分析尤为优秀。 -
德国斯派克ICP-OES等离子体发射光谱仪GREEN
采用垂直同步双观测 (DSOI)技术的ICP-OES等离子体发射光谱仪 SPECTROGREEN -
德国斯派克全谱电感耦合等离子体发射光谱仪 ICP（ARCOS）
专利的密封充气紫外光学系统，全谱CCD技术和多视角等离子体定位等新技术，高灵敏度、高精度以及波长范围宽。 全波长覆盖，130~770nm的波长范围，可分析ppm级卤素 -
PHASE(菲斯)公司全自动冰点、倾点、凝点、浊点检测仪-70Xi
众多国际、国内分析标准均按照PHASE(菲斯)公司产品标准制定。 PHASE(菲斯)公司全自动冰点、倾点、凝点、浊点检测仪-70Xi采取自动脉冲压检测，冰点、倾点、凝点、浊点四大功能 -
日本Otsuka显微分光膜厚仪OPTM SERIES
使用显微光谱法在微小区域内通过绝对反射率进行测量，可进行高精度膜厚度 光学常数分析。 可通过非破坏性和非接触方式测量涂膜的厚度，例如各种膜、晶片、光学材料和多层膜。 测量时间 -
日本Otsuka膜厚测量用多通道光谱仪MCPD系列
光谱仪（MCPD-9800 MCPD-3700 MCPD-7700） 提供丰富选配套件以及客制化光纤， 可依据安装现场需求评估设计，是一套可灵活架设于各种环境下的最佳即时测量系统